基于全二维面探测器技术的cosα残余应力分析方法首个日本标准正式颁布

2020-06-16 09:59:09 sciaps

   

便携式X射线残余应力仪

    目前,基于新型圆形全二维(面)探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪设备(μ-X360系列)的用户已遍布日本、中国、美国、加拿大、德国、英国、澳大利亚等世界各地,这些用户不仅包括中国清华大学、日本金泽大学、美国哥伦比亚大学、英国帝国理工学院等科研单位,还包括来自知名企业:日本SINTOKOGIO,LTD.公司(世界知名喷丸行业成套设备供应商)、中国宝钢集团、东风汽车集团股份有限公司等工业领域用户。 在工业应用中,参考标准作为指导实践的重要依据一直以来都备受关注。日本材料学会于2020年2月15日发布JSMS-SD-14-20《通过cosα方法测量X射线应力的标准(铁素体钢)》标准。该标准的颁布将为全二维面探技术及cosα残余应力分析方法在相关制造业领域中发挥更重要的作用提供了强有力的理论支撑。我们相信该标准的颁布对于我国今后相关的企业标准、地方标准及国家标准的制定都能起到积极的参考作用,为相关行业的X射线残余应力检测实践工作提供帮助和启发!

   X射线残余应力分析方法和技术,因其具有理论成熟、数据可靠、无损检测等优势,在各种金属加工领域具有广泛的应用。在过去的几十年时间中,市面上的X射线残余应力分析仪主要采用的是基于零维(点)探测器和一维(线)探测器技术的设备。2012年日本Pulstec公司成功发布了基于新型圆形全二维(面)探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪设备(μ-X360系列)。μ-X360系列的相关设备具有技术先进、测试精度高、体积迷你、重量轻、极具便携性等特点,不仅可以在实验室使用,还可以方便携带至非实验室条件下的各种现场或户外进行原位的残余应力测量,这使得X射线残余应力分析方法和技术在应用上实现了更进一步的突破!

  中国基于新型圆形全二维面探测器技术相关的标准也在筹备中,希望尽快推出。

测试原理概述:

   全二维面探测器技术

      --单角度一次入射后,利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力
      --施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可获得全部残余应力信息

产品特点:

    相较于传统的便携式X射线残余应力分析仪,新一代

    具有以下优点:

    更快速:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量。

    更精确:一次测量可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合,结果更精确。

    更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

    更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电。

    更强大:具备区域应力测量功能,晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能。

  参考内容: 日本材料学会发布cosα法X射线应力测定法标准的官方网址:http://www.jsms.jp/book/xcos.htm 声明:JSMS-SD-14-20标准受版权保护,如有需要可在上述官方网址购买。




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