U-X360S便携式X射线残余应力分析仪资料

2020-03-27 10:22:19
文件版本 :2020v1
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U-X360SX射线残余应力检测仪相较于传统的便携式X射线残余应力分析仪,新一代具有以下优点:

    更快速:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量。

    更精确:一次测量可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合,结果更精确。

    更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

    更方便:无需任何液体冷却装置,支持便携电池供电。

    更强大:具备区域应力测量功能,晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能


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