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U-X360SX射线残余应力检测仪相较于传统的便携式X射线残余应力分析仪，新一代具有以下优点：
更快速：二维探测器一次性采集获取完整德拜环，单角度一次入射即可完成测量。
更精确：一次测量可获得500个衍射点进行残余应力数据拟合，结果更精确。
更轻松：无需测角仪，单角度一次入射即可，复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。
更方便：无需任何液体冷却装置，支持便携电池供电。
更强大：具备区域应力测量功能，晶粒均匀性、材料织构、残余奥氏体分析等功能
