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西安丰登光电科技有限公司

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    U-X360S X射线残余应力分析仪

    • 型号U-X360S
    • 品牌日本帕路斯
    • 价格

    μ-x360s是世界上最小最轻的基于全二维探测器技术的新一代便携式X射线残余应力分析仪。无需测角仪,复杂形状样品的无损测量变得轻松可行。

    1. 详细信息
    2. 丰登联系方式

    世界最小最轻的便携式X射线残余应力分析仪

     —开创性的全二维探测器技术让一切变得简单!

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    日本Pulstec公司推出了世界上最小最轻的新一代便携式X射线残余应力分析仪μ-360s,该设备将精密全二维探测器技术引入到X射线残余应力测量中,它的诞生将X射线残余应力分析技术推到一个全新的高度,一经推出就备受业界的青睐!

    1,全二维探测器,无需测角仪,无需液体冷却,测量更方便。

    2, X射线单角度(通常为35°)一次入射即可完成测试,测量更快速。U-X360S工作原理图

    3, 二维探测器一次性采集360°全方位衍射数据并获取完整德拜环。

    4, 多达500个数据点进行残余应力数据拟合,结果更精确。

    5, 测试过程整机无需转动,测试从此不再受样品形状的限制。

    6, 体积轻巧(整机重8.6公斤),可电池供电,真正便携。户外工程原位检测变得轻松可行。

    7, 内置CCD摄像头和激光辅助定位系统,样品定位更轻松。

    8, 全自动软件测量残余应力、半峰宽、残余奥氏体等数据。

    9, 独有的德拜环数据可延伸分析材料织构、晶粒大小。

    10, 功率小(30kv,1.5mA),辐射小,使用更安全。

    11, 操作简单,维护成本低。

    U-X360S X射线残余应力分析仪分析软件 测量更轻松

    U-X360S应力分析软件

    强大的主机功能;

    U-X360S X射线残余应力分析仪样品定位更轻松:U-X360S样品定位μ-x360s主机系统内置CCD摄像头和激光辅助定位系统。在进行样品定位时(如左图所示),主机系统会发射出一束红色激光,激光光斑照射在样品表面的位置表示X射线光斑的辐照位置。黄框是系统设定的允许红斑出现的范围,当调整样品到探测器之间的距离时,如果红斑出现在黄框内表示探测器到样品表面之间的距离已经合适

    1504531780627633.pngX射线光斑大小灵活可调:μ-x360s系统提供不同尺寸的准直器,用以产生不同大小的X射线光斑。其中,小直径的准直器可用于对样品进行微区残余应力检测。提供不同尺寸的准直器,直径分别为(mm):Φ0.3 Φ0.5 Φ1.0 Φ2.0

    强大的数据处理、存储、导出功能:μ-x360s自带测试软件,测试软件包含强大的数据处理、存储和导出功能,测试软件自动保存,可以在不连接设备的情况下对测试结果进行处理,导出,生出需要的测试报告

    晶粒取向和织构分析功能

    独有的晶粒取向/织构分析功能:μ-x360s可以直接给出德拜环的衍射强度分布信息,根据德拜环的完整性及其强度分布特征,可以直观地判断出材料中是否有大晶粒及是否存在取向/织构现象

    U-X360S X射线残余应力分析仪丰富的选件功能:

    残余奥氏体分析

    U-X360S X射线残余应力分析仪快速残余奥氏体测量:μ-x360s可同时得到奥氏体相和非奥氏体相的德拜环,通过计算两个德拜环的衍射强度实现残余奥氏体含量分析功能。

    电解抛光仪

    电解抛光机实现表面以下残余应力测量:电解抛光遵循腐蚀电化学原理,通过对电解液、电流、电压等参数的控制,对样品表面达到抛光和加工的目的,以实现样品表面以下深层位置的残余应力测量。

    振荡单元

    振荡单元解决大晶粒材料应力测量:X射线应力测定理论要求材料均匀连续且各向同性,但是当材料中存在大晶粒时上述要求无法满足。此时,因没有足够的晶粒参与衍射从而会影响残余应力测试结果的可靠性和准确性。振荡单元选件可以采用振荡的方式以采集更多的晶粒衍射信息,从而改善残余应力的测试数据,提高数据可靠性和准确性。

    残余应力分布

    XY面扫描位移平台实现残余应力面分布测量:用于在平面内X方向和Y方向精确的调节探测器位置,每个方向的量程最大可到20 cm,调节精度为1μm。通过使用XY面扫描位移平台选件,可以对样品进行平面范围内的应力测试,从而得到残余应力在特定区域内的分布信息

    换靶方式

    换靶更方便:用户可以自己更换X射线管所用的靶材以满足更广的测试材料需求可更换的靶材包括:Cr, V, Cu, Mn, Co

    实验室内轻松胜任各种部件检测:

                 --快速、高精度、复杂形状全面分析

    U-X360S残余应力仪

    μ-x360s是世界上最小最轻的基于全二维探测器技术的新一代便携式X射线残余应力分析仪。无需测角仪,复杂形状样品的无损测量变得轻松可行。即便是齿轮、螺杆、曲轴等形状及其不规则的样品,也无需切割即可完成残余应力测试,实现了真正的无损检测!

    残余应力应用图

    户外工程现场原位残余应力检测:残余应力仪应用图

       1,可装便携箱 约8.6公斤 单手可携带 

       2,设备体积小巧 可现场检测庞大物体

       3,无需测角仪 一个入射角完成全部测量 

       4,现场测量不再受空间限制 

       5,电池即可工作 野外检测无需现场供电

       6,体积小巧,可以伸进内径为170mm的

       7,管道进行检测



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