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Genius IF二次靶X射线荧光光谱仪

  • 型号Genius IF
  • 品牌Xenemetrix
  • 价格

二次靶X射线荧光光谱仪拥有专利技术的广角几何加上8个二次靶及8款可订制的滤光片,可准确测定微量和痕量元素

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二次靶XRF

仪器简介:

  Xenemetrix推出的Genius IF二次靶激发X射线荧光光谱仪(EDXRF)为元素分析市场提供了一个最经济有效的解决方案。这款分析仪能够进行无损的定性定量分析,元素分析范围从C碳(6)~Fm镄(100),检测含量范围从PPM~ 100%。

创新点: 

  全球首台拥有二次靶激发模式的台式X射线荧光光谱仪,拥有专利技术的广角几何加上8个二次靶及8款可订制的滤光片,可准确测定微量和痕量元素,硅漂移 (SDD)探测器具有高能量分辨率和高计数率,能量分辨率低至123Ev.

二次靶激发示意图

Genius IF二次靶X射线荧光光谱仪特点:

  1,集成电脑系统

  2,高分辨率硅漂移探测器

  3,高功能X射线光管,检测光斑尺寸可变,专为适应多尺寸的样品而设计

  4,Genius IF有着专利结构,由8个二次靶和 8个定制的光管滤管片相结合,提高激发效果,确保快速精确地测定微量元素。

  5,WAG(广角结构)专利的二次靶技术能最佳地分析高含量、低含量及微量元素。

  6,X射线管激发的二次靶(纯元素)K特征线,可做到“单色”激发样品。

  7,使用二次靶可有效降低某些元素的检出限。极低的检出限使得Genius IF应用更为广 泛,能进入传统EDXRF无法使用的领域,成为一款功能强大的元素分析仪。

  8,Genius IF 同样可在经典的直接激励模式下操作,这款光谱仪既可用于传统的实验室,由于其紧凑坚固的结构设计,它还可成为移动实验室的理想选择。它符合冲击试验的MIL 810E规格。

  9,硅漂移探测器(SDD): 硅漂移探测器具有高分辨率和高计数率,分辨率低至123eV,具有更快的响应速度和最小化的操作时间。

  10,SDD LE: 超薄的探测器窗口提供性能优越的低能元素(轻元素)分析。

二次靶VS直接激发模式(如图):

二次靶与直接激发对比

图中显示了更明显的峰/背景值比,二次 靶激发(黑色的频谱线)VS直接激发模式 (红频谱线)

Genius IF二次靶X射线荧光光谱仪技术参数:

系统规格

SDD 版本


sdd LE

测量功能




测量范围

F(9) - Fm(100)


C(6) - Fm(100)

测量浓度范围


sub ppm -100%

X 射线生成




X 射线管靶材


Rh/Ag/Mo/W/Pd 靶

X 射线源


50kV, 50W

激发类型


直接激发和二次靶激发

稳定性


在室温下,精确度为0.1%

X 射线检测




探测器


SDD 版本

分辨率 (FWHM)


125eV ± 5eV

视窗

铍窗


轻元素优化薄窗

总体功能




自动进样器


8/16 位

工作环境


空气/真空/氦气

滤光片


8 款软件可选(定制)

电源


110-230VAC 50/60Hz

脉冲处理


高速数字化多道分析器 (DPP)

尺寸大小(L x W x H, cm)

带包装: 55 x 55 x 32, 盒装: 80 x 80 x 65

重量

50 千克(净重),90 千克(毛重)

仓体尺寸


22 x 22cm, H=5cm

电脑


集成PC

操作软件

在Microsoft Windows™ OS 操作系统上运行的nEXt™ 分析包+基础基本参数.

控制

自动控制激发,检测,样品处理和数据处理

光谱处理

自动逃逸峰和移除背景. 自动反重叠峰值. 图表统计

定量分析算法

元素间校正的多元回归分析法 (6 种可用模型). 毛重,净重,匹配和数字滤波强度法

报告


用户自定义数据打印输出

额外收费选项

16 槽位的传送带自动进样器. 样品旋转器. 专业基础 参数. 坚固外箱. LE 探测器.

Genius IF二次靶X射线荧光光谱仪应用:

 石油化工

 聚合物

 冶金样品

 合金

 环境

 石油,燃料,柴油&液体

 矿业和地质(含稀土元素)

 法鉴

 鉴定&贵金属

 药学与生物医学



标签:   二次靶激发X射线荧光光谱仪 能量色散荧光光谱仪
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