光谱仪_直读光谱仪_X射线成像系统_残余应力仪                                                                                     咨询热线18700442184

西安丰登光电科技有限公司

网站首页 > 新闻资讯 > 应用行业 > 残余应力仪应用

传统残余应力和最新二维探测残余应力技术比较

2017-08-12 15:56:02 西安丰登光电科技有限公司 阅读

传统残余应力和最新二维探测残余应力技术比较区别:

X射线残余应力仪

(1)传统一维点,线探测器残余应力仪——sin2Ψ

       1)通过测量应力引起的衍射角偏移,从而算出应力大小。测量时需要多次(一般5-7次)变X射线的入射角,并且调整一维探测器的位置找到相应入射角的衍射角

        2)施加应力后,通过测角仪得到衍射角发生变化的角度,从而计算得到应力数据

(2)圆形全二维面探测器残余应力仪——基于cosα方法

        1)单角度一次入射后,利用二维探测器获得完整德拜环。通过比较没有应力时的德拜环和有应力状态下的变形德拜环的差别来计算应力下晶面间距的变化以及对应的应力

        2)施加应力后,分析单次入射前后德拜环的变化,即可获得全部残余应力信息

    世界首款基于二维探测器和cosα分析方法的新一代X射线残余应力分析仪,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,总体说来它比传统方法具有如下优点:

1,圆形全二维面探测器残余应力仪优点:

     更快: 二维探测器获取完整德拜环,单角度一次入射测量即可完成测量,全过程平均约90秒

     更精确:一次测量最多可获得500个数据点,用于拟合计算应力。无应力铁粉残余应力测定的精度为±2MPa(欧美标准无应力铁粉残余应力测定的精度要求为正常±6.9MPa,最大±14MPa.)

     更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难

     更方便:测量精度高, 无需冷却水、野外工作无需外部供电

     更强大:有区域应力分布测量成像(Mapping)功能,软件有晶粒大小、材料织构、残余奥氏体信息分析功能

2,传统一维点,线探测器残余应力仪:

      1,设备笨重,不适合检测比较大的工件或设备

      2,需要测角仪,每次摄入,要多点d-sin²Ψ曝光模式,互相关法计算峰位移。增加仪器成本

      3,需要水冷系统,冷却液温度过高或其它流动不畅通时机器不能工作,增加仪器使用成本。

      4,操作复杂,必须专业长时间培训或有经验的人员才能操作。检测时间长,每次测量必须转角,人工误差大。

      5,设备故障率高,不管是,测角仪,冷却系统或测角角度有一处故障,设备就不能正常工作。

      6,价格昂贵,测角仪和冷却系统大大增加了设备成本,维修费用及高。

   根据以上的比较全新圆形二维面探测器残余应力仪颠覆传统一维点线探测器残余应力仪的技术,二维面探测器更先进,更精确,更便携,功能更强大,价格更便宜。选择残余应力仪时给您提供技术上的比较,让您选择适合的产品。如果想了解具体残余应力仪详情,请咨询7*24小时服务热线18700442184

X射线残余应力仪详情》》》


标签:   X射线残余应力仪 残余应力测试仪 残余应力检测仪
Powered by MetInfo 5.3.19 ©2008-2018 www.metinfo.cn