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西安丰登光电科技有限公司

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X射线残余应力分析仪价格

2017-07-11 15:40:43 西安丰登光电科技有限公司 阅读

X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得最为广泛、深入、成熟的内应力测量方法,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。然而长期以来,大家使用的都是基于一维探测器的测量方法。世界首款基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪——μ-X360s,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,设备推出不久便得到业界的广泛好评。 

   相较于传统的X射线残余应力测定仪,新一代μ-X360n具有以下优点:

更快:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量,全过程平均约90秒。

更精确:一次测量可获得500个数据点进行残余应力数据拟合,结果更精确。

更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

更方便:测量精度高,无需冷却水,野外工作无需外部供电。

更强大:具备区域应力分布测量成像Mapping)功能,晶粒大小、材料织构、残余奥氏体分析等功能。

以下是本公司最新X射线残余应力分析仪分项报价:

 

360s-2.jpg 

制造商信息: 日本 Pulstec 公司
产品型号: μ-X360s
价格形式: CIP 国内主要机场
付款方式: 100%预付
交货日期: 收到预付货款后 3 个月内
保修日期: 设备安装后 12 个月
安装培训: 现场 1 个工作日

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Description


1

X射线残余应力仪(u-X360n)

1, X射线发生器和二维探测器的主机。

2, 直径1MM的准直管,

3, Cr靶材的探测器单元一套,

4, 电源单元

5, 角度计

6, 标样

7,支架

标准配置

安装培训运输:免费

以下为各种选配件

2.1

屏蔽罩

 

用于屏蔽泄露的 X 射线到绝对 0.1μSv/h 以
下。标准尺寸: 60X60X80cm
Ÿ 重量: 45kg
Ÿ 可以按要求定制

选配单元

2.2

电解表面抛光机

用电解抛光的方法去除金属的表面逐层获
得 10μm 下面金属的残余应力的情况

选配单元

2.3

剩余奥氏体含量软件分析功能

用于提供自动计算剩余奥氏体含量的软件
分析功能

选配单元

2.4

X-Y 位移平台

用于在平面内 X 方向和 Y 方向精确的调节探
测器位置,对样品表面进行残余应力面扫
描,每一个方向的量程为 20cm,调节精度
为 1μm

选配单元

2.5

振荡单元

用于非喷丸处理的大晶粒材料样品残余应
力测量

选配单元

2.6

更换准直镜专用工具

方便用户自己更换准直镜的专用工具

选配单元

2.7

直径 0.3mm 的准直镜φ0.3

曝光时间约 100 秒

选配单元

2.8

直径 0.5mm 的准直镜

曝光时间约 60 秒

选配单元

2.9

直径 2.0mm 的准直镜

曝光时间约 15 秒

选配单元

2.10

美国原装进口 Pelican 运输箱

用于设备主机运输

选配单元

2.11

电池

用于设备供电

选配单元

2.12

三脚架

用于非实验室或户外条件下测试使用

选配单元

2.3

*备注: 剩余奥氏体含量软件分析功能 如果是买了主机以后再升级该功能,需要在上述报价的基础上再增加返厂调试费用。



标签:   X射线残余应力分析仪 残余应力分析仪 应力分析仪
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