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U-X360N便携式X射线残余应力仪

  • 更新时间2017-05-22 20:13:57
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  • 简要说明残余应力仪资料

详细描述

    X射线是表面残余应力测定技术中为数不多的无损检测法之一,是根据材料或制品晶面间距的变化测定应力的,至今仍然是研究得最为广泛、深入、成熟的内应力测量方法,被广泛的应用于科学研究和工业生产的各领域。然而长期以来,大家使用的都是基于一维探测器的测量方法。2012年日本Pulstec公司开发出世界首款基于全二维探测器技术的新一代X射线残余应力分析仪——μ-X360n,将利用X射线研究残余应力的测量速度和精度推到了一个全新的高度,设备推出不久便得到业界的广泛好评。

   相较于传统的X射线残余应力测定仪,新一代μ-X360n具有以下优点:

         更快:二维探测器一次性采集获取完整德拜环,单角度一次入射即可完成测量,全过程平均约90秒。

         更精确:一次测量可获得500个数据点进行残余应力数据拟合,结果更精确。

         更轻松:无需测角仪,单角度一次入射即可,复杂形状和狭窄空间的测量不再困难。

         更方便:测量精度高,无需冷却水,野外工作无需外部供电。

         更强大:具备区域应力分布测量成像(Mapping)功能,晶粒大小、材料织构、残余奥氏体分析等功能。

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